彩電低壓電源失壓檢測(cè)電路如下圖所示。該電路為多路電壓欠壓、失壓檢測(cè)電路，二極管vd1、vd2、vd3、vd4為檢測(cè)與隔離二極管，其負(fù)極分別接到各路被檢測(cè)的電源電路中，下圖(a)正極均通過r2接到pnp檢測(cè)管vt1的基極。當(dāng)被檢測(cè)的電源電壓正常時(shí)，檢測(cè)隔離二極管均反偏截止，檢測(cè)管vt1基極為高電位，vt1o)np型管）截止，其集電極無電壓輸出；當(dāng)被檢測(cè)電源發(fā)生開路造成失去電壓或負(fù)載電路短路造成電壓過低時(shí)，其相應(yīng)的檢測(cè)隔離二極管vd1、vd2、vd3、vd4之一導(dǎo)通，將檢測(cè)管vt1的基極電壓拉低，使vt1導(dǎo)通，集電極c有電壓輸出，通過隔離電阻r4將電壓加到電壓翻轉(zhuǎn)電路，致使保護(hù)電路動(dòng)作，進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)。
　　
　　下圖(b)正極接微處理器的專用保護(hù)檢測(cè)“pro”引腳，當(dāng)被檢測(cè)的電源電壓正常時(shí)，檢測(cè)隔離二極管均反偏截止，微處理器“pro”腳為高電位，微處理器判斷電路正常，不采取保護(hù)措施；當(dāng)被檢測(cè)電源發(fā)生開路造成失去電壓或負(fù)載電路短路造成電壓過低時(shí)，其相應(yīng)的檢測(cè)隔離二極管vd1、vd2、vd3、vd4之一導(dǎo)通，將微處理器的“pro”引腳電壓拉低，微處理器根據(jù)“pro”引腳變?yōu)榈碗娢唬瑏砼袛啾粰z測(cè)電路發(fā)生失壓故障，進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)。
　　
　　下圖(a)、(b)集電極c或微處理器的“pro”引腳為測(cè)試點(diǎn)。正常時(shí)為vt1的集電極c為低電平，檢測(cè)到失壓故障時(shí)，集電極c變?yōu)楦唠娖健Ｎ⑻幚砥鞯?ldquo;pro”引腳正常時(shí)為高電平，檢測(cè)到失壓故障時(shí)，變?yōu)榈碗娖健?/p>

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