TCL王牌NT29A51型號電視開機燒行管原因

1、過壓擊穿 2、過流擊穿
根據行管擊穿的問題類型分根據行管擊穿的問題類型分：：
行管損壞后，我們在拆下行管，可以使用萬用表測量其靜態電阻，如果 CE阻值在數百歐姆，行管一般是在使用過程中，過流后過熱慢慢燒毀，在燒毀之前需要出現一定的時間積累。

如果 CE阻值在數歐姆，此類情況是行管過壓燒毀，多數都是瞬間意外突然燒毀的，在燒毀之前沒出現不正常征兆，或者是開機即燒行管，或者是使用幾天也沒出現問題但沒出現規律某次開機時突然燒行管。 行管擊穿維修的維修方法行管擊穿維修的維修方法：：
行管擊穿維修的維修方法行管擊穿維修的維修方法：：
1、  電流監測法
檢測點：在+45V或+51V或+190V開關變壓器二次供電輸出電容處，二次供電調整管濾波電容處，行包初級線圈后。

2、  電壓測量法
顯示器的行激勵供電因為顯示器設計不同，出現取自+12V，+45V，+80V等幾種，顯示器的行管出現使用雙極型的，也出現使用場效應管的。
如果不好找對應型號，可以考慮直接使用 IRF630，在代換行激勵管后， 好使用示波器測量一下波形，同時長時間監測一下行管的溫升。
3、  波形檢測對比法
行場 IC 的 HOUT 端，行激勵管的 C 極，行激勵變壓器的 34 腳，行管的 B極，行管的 C 極(要注意測量方法)。這些關鍵點的波形一般是固定的，如果某點VPP 值變低或變高，都會造成行管激勵不足或過激勵而燒毀行管。如果某點的波形畸變，也會造成行管過流，長時間使用過熱燒毀。通過波形檢測，可以迅速定位問題點，找出問題原因。
4、  溫度測量法
主要用于替換行管后，對行管的溫度進行長時間監控，一般行管連續使用兩70 度以下，基本都可以使用。注意測個小時以上，行管的溫度不上升，保持在量時，要蓋上后蓋，不開蓋的狀態測量與蓋蓋測量溫度會出現不小的差異，要測量時要注意與實際使用環境溫度相當。
5、  元件替換解決法
對于判斷行逆程電容容量減小的問題，可以采用電容并聯法。
對于行管發熱量大的問題，可以選用幾個不同的行管（三代，四代，五代）

的行管進行替換，分別測試行電流大小和發熱量，溫升 小的選用。
行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類：：
行管擊穿的原因分類行管擊穿的原因分類：：
1、  開關電源輸出電壓偏高
由于電源穩壓系統出現問題，不能穩壓，導致 B+電壓上升。如果 B+電壓超過 10%以上，會產生行管擊穿損壞特征。這時應重點檢查取樣電路，誤差放大器和脈寬控制電路的元件。另外，若電網電壓太高，超過了開關電源允許的穩壓值范圍，也會造成開關電源輸出電壓偏高。
2、  二次供電穩壓電路不正常，導致二次供電過高
正常情況下，顯示器開機時，由于緩啟動電路的存在，B＋的電壓是慢慢升高，而不是開機后直接跳為高電壓。如果緩啟動電容失容損壞，就會造成開機時電壓立即跳升，同時電壓不穩，容易造成燒行管。
還出現，二次供電采樣電壓路和穩壓電路元器件損壞，也會造民二次供電不正常。

3、  行偏轉線圈或行輸出變壓器局部短路
行偏轉線圈奩行輸出變壓器發熱后，因漆包線的絕緣性能下降而產生局部短路，如果保護電路性能不佳，則會引起行管損壞。這時可與同型號正常機器相比較，通過測量行輸出級電流來判斷。如果開機瞬間馬上燒壞行管，此時用手摸散熱片的溫度較高，則說明是行偏轉線圈或行輸出變壓器出現短路，引起行管過流擊穿。
4、  行頻過低
因為流過行偏轉線圈電流的 大值與行正程掃描時間成正比，即行頻越低，周期越長，行正程時間相應變長，結果使行偏轉電流上升，當超過行管所承受的電流 大值時，使用行管燒壞。因此，在調整行頻時，應避免使用行頻長期處于偏低狀態。顯示器的行頻是由 MCU檢測行場信號后，根據顯示模式自動切換產生，一般不會出現行頻過低特征。

5、  行逆程時間過短
在行逆程期間，會產生很高的反峰脈沖電壓，這就要求行逆程電容，行輸出管，阻尼二極管等元件具出現很高的耐壓能力。當行逆程電容容量變小，失效或開路時，反峰脈沖電壓上升，一旦超過行管的耐壓值，就會出現行管換一只燒一只的結果。此時，迅速用手摸行管的散熱片，若溫度與未開機前差不多，則說明是因為逆程電容開路而引起的過壓擊穿。
解決方法：是將行逆程電容全部換新。
6、  行激勵不足
如果行激勵不足，行管不能迅速飽和，導致行管內阻變大，使用行掃描線性變差；如果行激勵不足，行管不能迅速地截止，使用行管長時間地處于出現電流流過的不正常工作狀態，將造成行輸出電路的功耗增加，引起行輸出管發燙。一旦超過行管功耗的極限值，則會使用行管再度燒壞。其時間間隔出現快出現慢，出現的則開機就燒行管；出現的過一段時間才會燒行管。若時間間隔長，不防用示波器觀察激勵級的波形，可幫助找到問題原因。
造成行激勵不足的原因出現：行激勵管性能不良；行激勵變壓器的供電電阻阻值增大；行激勵變壓器的周圍元件出現虛焊；行激勵變壓器初級燒組上的濾波電容變質；行振蕩電路的晶振不良；集成電路中行振蕩電路單獨供電腳的外接電容失效造成濾波不良。
7、  環境潮濕
這使用行輸出變壓器周圍元件漏電，或者因散熱不良(如將彩電置于柜內，或維修時行管與散熱板上的固定螺絲未擰緊)，行管過熱，使其耐壓降低， 終導致損壞行管。
8、  行偏轉線圈開路

此時行掃描正程后半段行管導通的時間將會大于其截止時間，使用行管在逆程時間內也短暫導通，導致行管損壞。因此，維修時要特別小心，在行偏轉線圈及其回路開路的情況下，如果長時間通電維修，是極危險的。
9、  行掃描電路中元件存在不穩定或老化，損壞短路等問題。
如 S 校正電容短路，枕校電路元件短路，使行電流大增，造成行管因過流而擊穿。 
此外，阻尼二極管開路，自舉升壓電容短路，高壓電泄露(如高壓打火，高壓線穿孔)，行管質量差，顯像管內部跳火，AFC 電路問題等，也會造成行管過流擊穿。

10、  開關電源中的行脈沖信號耦合電容，取樣電壓濾波電容失容。
受附近大功率元件高溫烘烤后，電容失容，導致行管擊穿。
11、  行包（FBT 回掃變壓器）或行中心調整線圈，枕校變壓器，行管，逆程二極管等引腳虛焊
虛焊是顯示器元件損壞大敵，開關電源變壓器，電源管，行管，行包，逆程二極管，逆程電容，行中心調整線圈都工作在大電流，高電壓環境，虛焊會造成瞬間的接通與截止，尖峰電壓很容易燒毀電源管和行管。
12、  行管型號不對或行管放大倍數相差太大，或使用了內置阻尼二極管或阻尼電阻的行管
我們在測量行掃描電路的、關鍵點電壓時，也要注意測量方法，如果測量方法不當也會瞬間燒行管。
13、  高壓打火，也是造成行管損壞的一種原因
高壓包在使用三到五年后，由于絕緣介質的老化，容易出現高壓打火特征。高壓打火可能發生在高壓包內部，也可能發生在高壓包對接地裝置，也可能是高壓嘴周圍打火，或高壓線穿孔，高壓打火出現會造成高壓不穩，瞬間的放電導致行管負載變化不正常造成行管燒毀。