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內(nèi)存檢測失敗導(dǎo)致不能啟動
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增大字體 問：我的計算機使用兩條現(xiàn)代256MBDDR的內(nèi)存，使用了一年多一直正常，但現(xiàn)在出現(xiàn)了故障，開機時提示Memorytestfail，計算機不能啟動，請問該如何解決？
答：這種故障是因為計算機在啟動時檢測內(nèi)存失敗，導(dǎo)致計算機不能啟動。導(dǎo)致計算機檢測內(nèi)存失敗的原因有很多，比如內(nèi)存與插槽接觸不良、內(nèi)存金手指氧化斷裂、內(nèi)存芯片損壞、內(nèi)存插槽損壞等。要解決這種故障，首先打開機箱拔下內(nèi)存，再重新插緊、插好，開機檢查計算機能否啟動；若故障仍存在，就要檢查金手指是否被氧化、內(nèi)存條是否斷裂損壞，并仔細(xì)查看內(nèi)存插槽內(nèi)的針是否有損壞等，并用一塊干凈的橡皮將金手指上的氧化物、污物擦干凈，重新插到內(nèi)存插槽上，再開機看能否啟動；若仍不能解決，可分別只使用一根內(nèi)存啟動，并嘗試分別插在不同DIMM插槽上看看是否能啟動，分批檢測來找出有故障的內(nèi)存或內(nèi)存插槽。
Tags：內(nèi)存檢測失敗導(dǎo)致不能啟動
作者：佚名
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