顯示器行管損壞的原因

一般來講造成行管損壞之原因有以下幾種：
1.行管質(zhì)量有難以預見之缺陷,使用中自然損壞。
2.逆程電容容量減小或開路使行逆程脈沖幅度異常升高。
3.行電源電壓過高使行逆程脈沖幅度異常升高。
4.行負載短路、漏電引發(fā)之過流,這里之行負載是指行輸出變壓器、偏轉(zhuǎn)線圈、S校正電容等元件。
5.行頻過高或過低。
6.行激勵不足。
7.行阻尼二極管特性變壞。
8.人為因素。
在實際檢修中:
第1種情況:造成行管損壞之主要原因,一般更換行管即可。
第2種情況:引發(fā)故障之多是逆程電容開焊造成之。
第3種情況:引發(fā)行管擊穿較多,特別是采用降壓型DC/DC變換電路之行二次開關(guān)電源之尤為突出。
當這種電源之開關(guān)管擊穿時,行管往往因為行電壓過高而擊穿,而且當行管擊穿后也會造成開關(guān)管因過流而損壞,兩者互為因果,相輔相成,檢修時要一一檢查,不可遺漏。
值得注意之是當行電源開關(guān)管損壞后萬用表測量之結(jié)果并不都是擊穿,個別會表現(xiàn)為D、S極導通壓降增大,如不換下也會屢燒行管,我就見過這么一臺Apple顯示器,換了IRF9630才好。
再有降壓型行二次開關(guān)電源之儲能電感線圈也可能因燒毀而使行電壓異常升高,從而損壞行管（有一階段飛利浦顯示器批量損壞這個電感,但好象行管沒損壞,可能電路保護設(shè)計得好吧）。
第4種情況:首先要說明之是顯示器之行輸出變壓器工藝要求要高于彩電行輸出變壓器,損壞幾率相當?shù)?不應(yīng)動不動就判定行損壞。
判斷行輸出變壓器損壞要慎重,因為顯示器行輸出變壓器不但價格較貴而且不易購到,當然行偏轉(zhuǎn)線圈更是如此。
一般多頻顯示器中至少有兩個S校正電容,我們可以依據(jù)位置之不同可以分別稱之為上S校正電容、下S校正電容。
實踐中下S校正電容損壞較多,此時行幅多會發(fā)生變化。當下S電容擊穿、漏電時行幅變寬,行電流增大,行管工作溫度上升,長此以往行管會熱擊穿。
當然行幅調(diào)整管、下阻尼二極管擊穿也會造成同樣問題。
第6種情況:引發(fā)問題之幾率很高,第8種情況則不易讓人想到。
行管之工作溫度與它之基極激勵狀況息息相關(guān),我曾用示波器觀察過ADI、PHILIPS、EMC等多種顯示器,發(fā)現(xiàn)PHILIPS顯示器行管之激勵波形近乎完美（相對而言）,其工作溫度始終不是很高。
從實踐中看PHILIPS顯示器行管之問題較少,相比之下同檔次之ADI則行管激勵波形不是很好,工作溫度較高,行管之損壞明顯偏多。
這可能是近水樓臺先得月吧,因為象BU2508、2520、2522就是PHILIPS之產(chǎn)品。
一般設(shè)計為了讓行管之飽和截止迅速完成,常在行管與行推動變壓器間之限流電阻上并聯(lián)一個電容及一個反向之二極管。
通常這個電容是有機性之電解電容,容量從幾?到幾百?,隨著使用時間之增加這個電容會出現(xiàn)損耗增加、容量縮減（當其損壞后用指針萬用表通常是測不出來之,一般用數(shù)字萬用表電容擋較易發(fā)現(xiàn)問題。
這是因為電容之容量就是采用交流電（好象是1KHz吧）測出之,電容之工作是與頻率息息相關(guān)之,這些壞電容一般都是高頻特性變壞,在低頻電路中未必不能使）,行管因為工作條件變壞而劇烈發(fā)熱, 終熱擊穿。
而PHILIPS電路中也有加速電容,但那是一只小容量之沒有機性電容。
以個別EMC顯示器為例,它之波形幅度會小些,但不會影響行管之好工作,為了不走彎路要多積累些實測數(shù)據(jù)。
在選取電解型加速電容時,如果原位置允許之話,應(yīng)盡量采用體積大、耐壓高之、工作溫度高之,并且要避開發(fā)熱源。這是因為它工作在高頻狀態(tài)下要求嚴格,如果你摸一下工作中之它,你就知道它本身可能就很熱。
實例1。一Wanstrow1428顯示器沒有光柵,經(jīng)查行管擊穿。將行管更換,數(shù)天后行管再次擊穿。
檢查電源電壓沒問題,再次上好行管,加電后密切關(guān)注行管之溫升。發(fā)現(xiàn)其短時間內(nèi)劇烈發(fā)熱。
懷疑行激勵不足,萬用表測量串聯(lián)在行推動變壓器與行管基極之加速電容,發(fā)現(xiàn)其容量由10?下降為1?。
將其更換,行管溫度好了。
實例2。一LEC1428顯示器行管擊穿,更換行管后交付用戶。
大約半個月后用戶又將該機返回,經(jīng)查發(fā)現(xiàn)還是行管擊穿。
這次將檢查范圍擴大,逆程電容、S校正電容、行輸出、行電源電壓都沒見異常。
再次更換新行管,加電,行可以工作,但行管溫度明顯高一些。用示波器測行管之B腳,波形稍顯模糊。
在檢查行推動級時沒有意中測了T601之12V端,發(fā)現(xiàn)竟有明顯波形,這是不好之。檢查行推動級退耦電容C614（100?25V）,發(fā)現(xiàn)其容量僅0.2 ?。
更換后12V端波形相當微弱,而行管之B腳波形變得清晰,上升沿、下降沿“干凈利索”,長時間工作溫度僅是微溫。本例也屬于行激勵不足,從例1、例2可以看出此類故障之典型特點是:不是馬上燒行管,但行管工作溫度偏高,時間長了行管 終因過熱而損壞。這一問題在飛利浦大屏上發(fā)生之也是較多之。
實例3。一PANDA CX151顯示器出現(xiàn)電源指示燈不亮,且開關(guān)電源發(fā)出過流保護之聲音。
檢查行管Q702,它擊穿了。更換行管后,繼續(xù)檢查發(fā)現(xiàn)Q710（BD677）C、E結(jié)擊穿,用BD681代用。
加電后圖像好,用手摸著散熱器監(jiān)視行管之發(fā)熱情況,發(fā)現(xiàn)時間不長行管已明顯燙手。
檢查逆程電電容、S校正電容、更換阻尼二極管都沒解決問題。
修到這就難以往下進行了,反復考慮后決定測一下行電流是否好。
加電后用2V檔測L502（實際安裝之是一0.47?電阻）兩端,發(fā)現(xiàn)行電流開機時增加迅速,且在0.6A時上升速率減小,但并不停止。
那是什么原因造成行電流不斷增加之呢？此時突然想起原來之行管是不帶阻尼之,于是立即用BU2522AX換下先前上之C5419。這回行電流在0.45A左右長時間穩(wěn)定不變,行管溫度也好了。
我用示波器測了分別上C5419與BU2522時之波形,沒發(fā)現(xiàn)什么不同。
這種問題還出現(xiàn)在萬普、宏基等顯示器上,另外我還發(fā)現(xiàn)用不帶阻尼之行管(外部電路已有阻尼二極管)代用帶阻尼之行管一般沒什么問題,但也不乏例外。
我在修理一臺PANDA
17寸顯示器時用BU2522AX代用已損壞之BU2525DF,結(jié)果加電就壞了。我又換了一只,還壞,用BU4522AF也是如此。不得已用BU2520DF代用,發(fā)現(xiàn)在DOS下工作好,在此希望能夠解釋成因。
實例4。一ADI
CM701顯示器沒有光柵,經(jīng)檢查行管已擊穿了。更換行管后加電試機,發(fā)現(xiàn)行管溫度較一般顯示器稍高。不一會兒光柵消失,行管再次擊穿。再次更換行管,又更換了阻尼二極管,加電后嚴密監(jiān)視行管溫度,這回與上次差不多。在觀察中突然發(fā)現(xiàn)在D804處有細小之火花出現(xiàn),斷電檢查發(fā)現(xiàn)在D804與旁邊之散熱器之間有一小團絮狀金屬末。將其取出,加電拷機,該機一切恢復好。該機以前曾有人修過,看來這一小團金屬絲可能是原檢修者在拆裝屏蔽鐵板時新添之“副產(chǎn)品”。本例情況特殊,但也應(yīng)屬于人為因素吧。
實例5.一IBM2248顯示器不亮,經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)行管擊穿。用戶反映這臺顯示器不久前曾因不亮修過,這回又舊病復發(fā)。更換行管后,加電拷機,短時間內(nèi)未見異常,于是扣蓋,繼續(xù)觀察。幾十分鐘后行管再次擊穿,在檢查了其它元件后,上好行管,加電觀察。觀察中發(fā)現(xiàn)有時光柵突然收縮,成一條垂直亮線。迅速關(guān)機,細致檢查后發(fā)現(xiàn)CRT靜電場消除線圈之插頭P401與主板上之插座接觸不好,打火,塑料部分焦化。處理后,該機恢復了好。CRT靜電場消除線圈與行偏轉(zhuǎn)線圈串接在一起,P401接觸不良,打火,從而損壞行管。由上可見行偏轉(zhuǎn)線圈回路打火是引發(fā)行管損壞之一個原因。
   實例6。一EMC
PA-564DA顯示器剛開機瞬間有光柵并向垂直中心收縮,如此數(shù)次行管就會擊穿。從故障現(xiàn)象上看似乎發(fā)生了X射線保護。檢查中發(fā)現(xiàn)行二次電源用儲能電容引腳銹蝕斷了,更換后行電源電壓平穩(wěn)好。本例屬于行電源引發(fā)電壓異常升高,EMC其它機型也有相同問題,這應(yīng)該是廠家選件把關(guān)不嚴。類似問題ADI也有發(fā)生。
  
實例7。一大眾14CP顯示器不亮,查行管及行電源管損壞,更換試機一切好,扣蓋交付用戶。第二天該機就被返回,仍是原故障。再次更換行管、電源管,試機一切好,交付用戶,誰知第三天該機又被返回,用戶發(fā)映這次開機一會就壞了,還是行管及電源管。我將檢修費退給用戶,不想修了,用戶說就信任你了,放在你這,先不急吶。我靜下來仔細考慮,發(fā)現(xiàn)這個故障好象與是否上后蓋有關(guān)－上好后蓋就出事。這是否是上好后蓋后電路板受擠壓,有元件開焊有關(guān)呢？經(jīng)過一番仔細檢查發(fā)現(xiàn)行場小信號處理IC
STV7778外圍之一個電容引腳開焊,這個電容好象是振蕩電容。補焊后,該機終于好了。該故障是14CP之通病。至于這當中之“至病”原因我還說不清楚,以前見過因行管基極嚴重接觸不良造成行管擊穿之,我想本例與之有類似之處
根據(jù)行管擊穿之故障類型分根據(jù)行管擊穿之故障類型分：：1、過壓擊穿 2、過流擊穿
根據(jù)行管擊穿之故障類型分根據(jù)行管擊穿之故障類型分：：
行管損壞后，我們在拆下行管，可以使用萬用表萬用表測量其靜態(tài)電阻，如果 CE阻值在數(shù)百歐姆，行管一般是
在使用過程中，過流后過熱慢慢燒毀，在燒毀之前需要有一定之時間積累。
如果 CE阻值在數(shù)歐姆，此類情況是行管過壓燒毀，多數(shù)都是瞬間意外突然燒毀之，在燒毀之前沒有異常
征兆，或者是開機即燒行管，或者是使用幾天也沒有問題但沒有規(guī)律某次開機時突然燒行管。
行管擊穿檢修之檢修方法行管擊穿檢修之檢修方法：：
1、   電流監(jiān)測法
檢測點：在+45V或+51V或+190V開關(guān)變壓器二次供電輸出電容處，二次供電調(diào)整管濾波電容處，行初級線圈后。
2、   電壓萬用表測量法
顯示器之行激勵供電因為顯示器設(shè)計不同，有取自+12V，+45V，+80V等幾種，顯示器之行管有使用雙極型之，也有使用場效應(yīng)管之。
如果不好找對應(yīng)型號，可以考慮直接使用 IRF630，在代換行激勵管后， 好使用示波器萬用表測量一下波形，同時長時間監(jiān)測一下行管之溫升。
3、   波形檢測對比法
行場 IC 之 HOUT 端，行激勵管之 C 極，行激勵變壓器之 34 腳，行管之 B極，行管之 C
極(要注意萬用表測量方法)。這些關(guān)鍵點之波形一般是固定之，如果某點VPP
值變低或變高，都會造成行管激勵不足或過激勵而燒毀行管。如果某點之波形畸變，也會造成行管過流，長時間使用過熱燒毀。通過波形檢測，可以迅速定位故障點，找出故障原因。

4、   溫度萬用表測量法
主要用于更換行管后，對行管之溫度進行長時間監(jiān)控，一般行管連續(xù)使用兩70
度以下，基本都可以使用。注意測個小時以上，行管之溫度不上升，保持在量時，要蓋上后蓋，不開蓋之狀態(tài)萬用表測量與蓋蓋萬用表測量溫度會有不小之差異，要萬用表測量時要注意與實際使用環(huán)境溫度相當。
5、   元件替換排除法
對于判斷行逆程電容容量減小之故障，可以采用電容并聯(lián)法。
對于行管發(fā)熱量大之問題，可以選用幾個不同之行管（三代，四代，五代）
之行管進行替換，分別測試行電流大小和發(fā)熱量，溫升 小之選用。
行管擊穿之原因分類行管擊穿之原因分類：：
行管擊穿之原因分類行管擊穿之原因分類：：
1、   開關(guān)電源輸出電壓偏高
由于電源穩(wěn)壓系統(tǒng)出現(xiàn)故障，不能穩(wěn)壓，導致 B+電壓上升。如果 B+電壓超過
10%以上，會產(chǎn)生行管擊穿損壞現(xiàn)象。這時應(yīng)重點檢查取樣電路，誤差放大器和脈寬控制電路之元件。另外，若電網(wǎng)電壓太高，超過了開關(guān)電源允許之穩(wěn)壓值范圍，也會造成開關(guān)電源輸出電壓偏高。
2、   二次供電穩(wěn)壓電路異常，導致二次供電過高
好情況下，顯示器開機時，由于緩啟動電路之存在，B＋之電壓是慢慢升高，而不是開機后直接跳為高電壓。如果緩啟動電容失容損壞，就會造成開機時電壓立即跳升，同時電壓不穩(wěn)，容易造成燒行管。

還有，二次供電采樣電壓路和穩(wěn)壓電路元器件損壞，也會造民二次供電異常。
3、   行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器局部短路
行偏轉(zhuǎn)線圈奩行輸出變壓器發(fā)熱后，因漆線之絕緣性能下降而產(chǎn)生局部短路，如果保護電路性能不佳，則會引起行管損壞。這時可與同型號好機器相比較，通過萬用表測量行輸出級電流來判斷。如果開機瞬間馬上燒壞行管，此時用手摸散熱片之溫度較高，則說明是行偏轉(zhuǎn)線圈或行輸出變壓器有短路，引起行管過流擊穿。
4、   行頻過低
因為流過行偏轉(zhuǎn)線圈電流之 大值與行正程掃描時間成正比，即行頻越低，周期越長，行正程時間相應(yīng)變長，結(jié)果使行偏轉(zhuǎn)電流上升，當超過行管所承受之電流 大值時，使用行管燒壞。因此，在調(diào)整行頻時，應(yīng)避免使用行頻長期處于偏低狀態(tài)。顯示器之行頻是由
MCU檢測行場信號后，根據(jù)顯示模式自動切換產(chǎn)生，一般不會出現(xiàn)行頻過低現(xiàn)象。
5、   行逆程時間過短
在行逆程期間，會產(chǎn)生很高之反峰脈沖電壓，這就要求行逆程電容，行輸出管，阻尼二極管等元件具有很高之耐壓能力。當行逆程電容容量變小，失效或開路時，反峰脈沖電壓上升，一旦超過行管之耐壓值，就會出現(xiàn)行管換一只燒一只之結(jié)果。此時，迅速用手摸行管之散熱片，若溫度與未開機前差不多，則說明是因為逆程電容開路而引起之過壓擊穿。

解決方法：是將行逆程電容全部換新。
6、   行激勵不足
如果行激勵不足，行管不能迅速飽和，導致行管內(nèi)阻變大，使用行掃描線性變差；如果行激勵不足，行管不能迅速地截止，使用行管長時間地處于有電流流過之不好工作狀態(tài)，將造成行輸出電路之功耗增加，引起行輸出管發(fā)燙。一旦超過行管功耗之極限值，則會使用行管再度燒壞。其時間間隔有快有慢，有之則開機就燒行管；有之過一段時間才會燒行管。若時間間隔長，不防用示波器觀察激勵級之波形，可幫助找到故障原因。

造成行激勵不足之原因有：行激勵管性能不良；行激勵變壓器之供電電阻阻值增大；行激勵變壓器之周圍元件有虛焊；行激勵變壓器初級燒組上之濾波電容變質(zhì)；行振蕩電路之晶振不良；集成電路中行振蕩電路單獨供電腳之外接電容失效造成濾波不良。
7、   環(huán)境潮濕
這使用行輸出變壓器周圍元件漏電，或者因散熱不良(如將彩電置于柜內(nèi)，或檢修時行管與散熱板上之固定螺絲未擰緊)，行管過熱，使其耐壓降低， 終導致?lián)p壞行管。
8、   行偏轉(zhuǎn)線圈開路
此時行掃描正程后半段行管導通之時間將會大于其截止時間，使用行管在逆程時間內(nèi)也短暫導通，導致行管損壞。因此，檢修時要特別小心，在行偏轉(zhuǎn)線圈及其回路開路之情況下，如果長時間通電檢修，是極危險之。

9、   行掃描電路中元件存在不穩(wěn)定或老化，損壞短路等問題。
如 S 校正電容短路，枕校電路元件短路，使行電流大增，造成行管因過流而擊穿。
此外，阻尼二極管開路，自舉升壓電容短路，高壓電泄露(如高壓打火，高壓線穿孔)，行管質(zhì)量差，顯像管內(nèi)部跳火，AFC 電路故障等，也會造成行管過流擊穿。
10、   開關(guān)電源中之行脈沖信號耦合電容，取樣電壓濾波電容失容。
受附近大功率元件高溫烘烤后，電容失容，導致行管擊穿。
11、   行（FBT 回掃變壓器）或行中心調(diào)整線圈，枕校變壓器，行管，逆程二極管等引腳虛焊
虛焊是顯示器元件損壞大敵，開關(guān)電源變壓器，電源管，行管，行，逆程二極管，逆程電容，行中心調(diào)整線圈都工作在大電流，高電壓環(huán)境，虛焊會造成瞬間之接通與截止，尖峰電壓很容易燒毀電源管和行管。 12、   行管型號不對或行管放大倍數(shù)相差太大，或使用了內(nèi)置阻尼二極管或阻尼電阻之行管
我們在萬用表測量行掃描電路之、關(guān)鍵點電壓時，也要注意萬用表測量方法，如果萬用表測量方法不當也會瞬間燒行管。
13、   高壓打火，也是造成行管損壞之一種原因
高壓在使用三到五年后，由于絕緣介質(zhì)之老化，容易出現(xiàn)高壓打火現(xiàn)象。高壓打火可能發(fā)生在高壓內(nèi)部，也可能發(fā)生在高壓對接地裝置，也可能是高壓嘴。